Estaciones de puntas – Probe Stations –
Micromanipuladores – para fijación y conexión de obleas, circuitos
integrados, dispositivos electrónicos miniatura y materiales a
equipos electrónicos de test para su caracterización eléctrica.
Poseen sistema de fijación de
oblea por vacío, micro posicionadores X-Y-Z con diversos tipos de
soportes de puntas y puntas de contacto eléctrico de diferentes diámetros y
microscopios ópticos.
Las estaciones están disponibles con
chucks de 4, 6, 8 y hasta 12″. Opciones disponibles de chucks térmicos
para alta temperatura, sistema criogénico para temperaturas hasta 77K,
mesas antivibratorias y cámaras de apantallamiento.
Sirven de plataforma de conexión
entre la muestra y el equipo electrónico de test, con resolución de 1
micra e inferior en el posicionamiento de las puntas de
prueba. Plataformas X-Y con movimiento grueso y fino para posicionamiento
rápido del chuck y ajuste fino posterior.
Los
microposicionadores pueden usarse con nuestras estaciones de puntas, solos, o
con cualquier estación de puntas de otros fabricantes. Disponibles con base
magnética permanente, magnética on/off, de vacío y de tornillos. Los
microposicionadores montan soportes de puntas con diferentes tipos de cable
eléctrico y mecanismo de sujeción de la punta. Ver información y modelos de los
microposicionadores aquí.
Determinación de las características
eléctricas de obleas recién fabricadas, en procesos de incrustación de
circuitos integrados. Pruebas térmicas para caracterizar el comportamiento –
rendimiento térmico, disipación – absorción de energía en circuitos integrados.
Información
de gama de estaciones de puntas http://instrumentosdemedida.es/estaciones-de-puntas/
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