Medida espesores en películas
o capas delgadas. MProbe, puede medir prácticamente cualquier película
translúcida delgada con espesor desde 1 nm hasta 1 mm. Se puede
medir de forma rápida y fiablemente el espesor y las constantes ópticas
en la mayoría de las películas translúcidas o ligeramente absorbentes
como: óxidos, nitruros, fotosensibles, polímeros, semiconductores (AlGaAs,
InGaAs, CdTe, CIGS), revestimientos duros (SiC, DLC), revestimientos de
polímeros (Parileno, poliamidas), pequeñas películas metálicas y muchos más.
Rango espesores: 1 nm-1 mm. Rango longitudes de onda: 200 nm-
5000 nm.
– Medidas y análisis en tiempo real: Multi-capa, delgada,
gruesa, no uniformes, etc… – Flexible: De banco o in-situ, conforme R&D.
Fácil integración en un sistema usando TCP o interface Modbus. – Medidas:
Espesor y constantes ópticas (índice de refracción y coeficiente de
absorción). – Amigable y potente: Medidas y análisis con un solo clic. Potentes
herramientas: Sensibilidad y simulación, corrección de fondo y escala, unión de
capas y materiales, proceso de producción por lotes.
Precisión: 0,01 nm ó 0,01%. Sensibilidad: 0,2% ó 1 nm.
Estabilidad: 0,02 nm ó 0,03%. Tamaño estándar del haz 3 mm, hasta 3 um.
Tamaño de la muestra desde 1 mm.
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