La herramienta más completa disponible en el mercado para la caracterización de materiales y componentes electrónicos. Gracias a su potente software interactivo, bajo Windows, permite analizar y extraer parámetros en cuestión de minutos . Desde, por ejemplo, simples test sobre transistores orgánicos o diodos convencionales a la comprobación de obleas en estaciones de puntas, desde componentes de baja impedancia con conexiones Kelvin hasta medidas de resistividad Van der Paw o efecto Hall en materiales muy aislantes.
- Analizador paramétrico de semiconductores
Aplicaciones:
Investigación de materiales y dispositivos
Desarrollo de dispositivos y procesos.
Modelado de dispositivos,
Pruebas de vida útil y fiabilidad.
Análisis de fallos.
Caracterización de transistores Mosfet, y bipolares
Caracterización de semiconductores III- V
Investigación en nanotecnología y MEMs
Pruebas avanzadas en memorias NVM.
Caracterización de nanotubos de carbono.
Caracterización de electrónica orgánica.
Caracterización de dispositivos y materiales fotovoltaicos.
Constituye la opción más completa para caracterización IV, CV e I/V ultrarrápida o pulsada.
Permite controlar instrumentación externa.
Características principales de las SMU:
Máxima resolución en corriente: 0,1 fA
Máxima resolución en voltsje: 0,1 µV
Rango de SMUS:
4200-SMU: ±200V,±100 mA en los cuatro cuadrantes.
4210-SMU: ±200V,±1 A en los cuatro cuadrantes.
Características principales del módulo CV
3 modos de funcionamiento: alta frecuencia, baja frecuencia y quasistático.
Rango de frecuencias de trabajo: 1 KHz a 10 MHz y 10mHz a 10Hz.
Polarización interna: ±30V o ±60V en modo diferencial.
Polarización externa: ±200V o 400V
Modos de barrido: C-V, C-f y C-t
Características principal del modulo I-V ultrarrápido.
Capacidad de generar y medir con pulsos desde 60 nS.
Medidas simultaneas de V e I a 200 MHz.
Captura de transitorios.
Generación de ondas arbitrarias.
El caracterizador básico modelo 2450, opera en los rangos ±200V/±100mA ó ±20V/±1A pudiendo trabajar en los cuatro cuadrantes I-V. Ver fuentes - medidor
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